JTAG标准(IEEE1149.1)培训
1、课程名称:JTAG标准(IEEE1149.1)培训
2、培训对象:
系统设计工程师、开发经理、硬件工程师、底层软件开发工程师
3、课程简介:
随着电路技术进入超大规模集成(VLSI)时代,VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的应用,都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失,电路和系统的可测试性急剧下降,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升,常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实:要对一个不具有可测试性的电路进行测试实徒劳的,只要提供电路的可测试性,才能使电路的测试问题得到简化并最终解决。1985年,由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG(Joint European Test Action Group)提出了边界扫描技术,它通过存在于元器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(边界扫描单元)对器件及外围电路进行测试,从而提高器件的可控性和可观察性。1986年由于其它地区的一些公司的加入,JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构,名称叫Boundary-Scan Architecture Proposal,Version 2.0,最后目标是应用到芯片、印制板与完整系统上的一套完善的标准化技术。1990年IEEE正是承认了JTAG标准,经过补充和修改后,命名为IEEE1149.1-90。同年,又提出了BSDL(Boundary Scan Description Language,边界扫描描述语言),后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。IEEE1149.1标准大大推动了边界扫描技术的发展和广泛应用。
本课程首先介绍了JTAG功能及应用介绍,然后详细介绍了1149.1的规范构成、硬件规范部分、软件规范部分等。通过对该课程的学习,学员可以详细了解JTAG应用场合以及JTAG内部工作机理,达到设计JTAG测试系统的能力。
4、讲师介绍:
1999-2004年 深圳市华为技术有限公司研发体系制造技术研究部高级工程师,工作期间,设计开发了各种测试仪器近百件,具有丰富的实践工作经验。2004年至今,从事JTAG测试仪器开发,对JTAG技术规范方面有非常深刻的理解和应用经验。
5、培训内容/安排:
第一章 JTAG功能介绍
第二章 JTAG应用介绍
第三章 1149.1硬件规范
第四章 BSDL(边界扫描描述语言)规范
第五章 设计案例交流
6、课时安排
JTAG功能及应用介绍4小时,硬件规范1天,BSDL规范4小时
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