JTAG标准（IEEE1149.1）培训

1、课程名称：JTAG标准（IEEE1149.1）培训

2、培训对象：

系统设计工程师、开发经理、硬件工程师、底层软件开发工程师

3、课程简介：

随着电路技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实：要对一个不具有可测试性的电路进行测试实徒劳的，只要提供电路的可测试性，才能使电路的测试问题得到简化并最终解决。1985年，由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术，它通过存在于元器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC（边界扫描单元）对器件及外围电路进行测试，从而提高器件的可控性和可观察性。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architecture Proposal，Version 2.0，最后目标是应用到芯片、印制板与完整系统上的一套完善的标准化技术。1990年IEEE正是承认了JTAG标准，经过补充和修改后，命名为IEEE1149.1-90。同年，又提出了BSDL（Boundary Scan Description Language，边界扫描描述语言），后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。IEEE1149.1标准大大推动了边界扫描技术的发展和广泛应用。

本课程首先介绍了JTAG功能及应用介绍，然后详细介绍了1149.1的规范构成、硬件规范部分、软件规范部分等。通过对该课程的学习，学员可以详细了解JTAG应用场合以及JTAG内部工作机理，达到设计JTAG测试系统的能力。

4、讲师介绍：

1999－2004年 深圳市华为技术有限公司研发体系制造技术研究部高级工程师，工作期间，设计开发了各种测试仪器近百件，具有丰富的实践工作经验。2004年至今，从事JTAG测试仪器开发，对JTAG技术规范方面有非常深刻的理解和应用经验。

5、培训内容/安排：

第一章    JTAG功能介绍

第二章    JTAG应用介绍

第三章    1149.1硬件规范

第四章    BSDL（边界扫描描述语言）规范

第五章    设计案例交流

6、课时安排

JTAG功能及应用介绍4小时，硬件规范1天，BSDL规范4小时

本文内容仅供参考，如有技术更改，恕不另行通知。购买请以实物为准。如有未尽事宜请访问深圳诚迅边界扫描科技有限公司网站 http://www.sixuntech.com 或电至130-7608-0158（手机一键拨号） ,我们将尽最大的努力帮助您。